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一種帶有限位測試體的測試針的制作方法

文檔序號:10440988閱讀:263來源:國知局
一種帶有限位測試體的測試針的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電路板測試技術領域,尤其涉及一種帶有限位測試體的測試針。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有技術下在對一些PCB板上插件孔邊緣的焊盤需要進行導通測試時,由于相鄰插件孔之間的間距很小,采用一般的彈性測試針進行測試時,由于彈性測試針的套管中裝有彈簧,因此使得彈性測試針的套管直徑都比較粗,很難滿足上述小間距的測試要求。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型提供了一種能夠滿足小間距測試需求的測試針。
[0004]為達此目的,本實用新型采用以下技術方案:
[0005]一種帶有限位測試體的測試針,包括限位測試體、設置在限位測試體一端的定位柱、以及設置在所述限位測試體另一端的安裝固定桿,所述安裝固定桿的端部徑向貫穿設置過線孔,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿同軸一體設置,所述限位測試體的測試面設置為平面,且所述限位測試體的直徑分別大于所述定位柱及所述安裝固定桿的直徑。
[0006]其中,所述定位柱的端部設置有球頭面。
[0007]其中,所述過線孔設置為橢圓形通孔。
[0008]其中,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿均采用導電金屬棒一體車削而成。
[0009]本實用新型的有益效果:本實用新型包括限位測試體、設置在限位測試體一端的定位柱、以及設置在所述限位測試體另一端的安裝固定桿,所述安裝固定桿的端部徑向貫穿設置過線孔,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿同軸一體設置,所述限位測試體的測試面設置為平面,且所述限位測試體的直徑分別大于所述定位柱及所述安裝固定桿的直徑。采用此結構設計的測試針,在測試時可將定位柱插于插件孔內,進而再通過定位柱上方的限位測試體的平面對孔邊緣的焊盤進行導通測試,而且還可以通過過線孔固定測試線,方便快捷,穩(wěn)定可靠。
【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型一種帶有限位測試體的測試針的結構示意圖。
【具體實施方式】
[0011]下面結合附圖1所示并通過【具體實施方式】來進一步說明本實用新型的技術方案。
[0012]該測試針包括限位測試體1、設置在限位測試體I一端的定位柱2、以及設置在所述限位測試體I另一端的安裝固定桿3,所述安裝固定桿3的端部徑向貫穿設置過線孔31,所述限位測試體1、所述定位柱2及所述安裝固定桿3同軸一體設置,所述限位測試體I的測試面11設置為平面,且所述限位測試體I的直徑分別大于所述定位柱2及所述安裝固定桿3的直徑。
[0013]進一步優(yōu)選的,所述定位柱2的端部設置有球頭面21。以此能夠方便的將定位柱2插入插件孔內而不會損傷孔徑邊緣處的焊盤。
[0014]進一步優(yōu)選的,所述過線孔31設置為橢圓形通孔。此結構設計,便于測試線方便的插入并與安裝固定桿3緊固。
[0015]進一步優(yōu)選的,所述限位測試體1、所述定位柱2及所述安裝固定桿3均采用導電金屬棒一體車削而成。優(yōu)選的,導電金屬棒可采用銅棒進行車削。
[0016]作為進一步的優(yōu)選,在測試時,需將電路板放置到可以上下浮動的定位治具上,以減少限位測試體I的測試面11對焊盤的損傷。
[0017]以上結合具體實施例描述了本實用新型的技術原理。這些描述只是為了解釋本實用新型的原理,而不能以任何方式解釋為對本實用新型保護范圍的限制?;诖颂幍慕忉?,本領域的技術人員不需要付出創(chuàng)造性的勞動即可聯(lián)想到本實用新型的其它【具體實施方式】,這些方式都將落入本實用新型的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種帶有限位測試體的測試針,其特征在于,包括限位測試體、設置在限位測試體一端的定位柱、以及設置在所述限位測試體另一端的安裝固定桿,所述安裝固定桿的端部徑向貫穿設置過線孔,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿同軸一體設置,所述限位測試體的測試面設置為平面,且所述限位測試體的直徑分別大于所述定位柱及所述安裝固定桿的直徑。2.根據(jù)權利要求1所述的帶有限位部的測試針,其特征在于,所述定位柱的端部設置有球頭面。3.根據(jù)權利要求1所述的帶有限位部的測試針,其特征在于,所述過線孔設置為橢圓形通孔。4.根據(jù)權利要求1所述的帶有限位部的測試針,其特征在于,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿均采用導電金屬棒一體車削而成。
【專利摘要】本實用新型公開了一種帶有限位測試體的測試針,包括限位測試體、設置在限位測試體一端的定位柱、以及設置在所述限位測試體另一端的安裝固定桿,所述安裝固定桿的端部徑向貫穿設置過線孔,所述限位測試體、所述定位柱及所述安裝固定桿同軸一體設置,所述限位測試體的測試面設置為平面,且所述限位測試體的直徑分別大于所述定位柱及所述安裝固定桿的直徑。采用此結構設計的測試針,在測試時可將定位柱插于插件孔內,進而再通過定位柱上方的限位測試體的平面對孔邊緣的焊盤進行導通測試,而且還可以通過過線孔固定測試線,方便快捷,穩(wěn)定可靠。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號】CN205353143
【申請?zhí)枴緾N201521041019
【發(fā)明人】鐘興彬
【申請人】深圳市新富城電子有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2015年12月14日
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