技術編號：10283477
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。于現(xiàn)有的晶粒挑撿制程中，其附加視覺檢測功能的必要性日益升高，視覺檢測系用于檢測出晶粒的五側面是否具有表面瑕疵，而晶粒的表面瑕疵的檢測方法會同時影響檢測的效率，并進而影響附加此檢測功能的挑撿機的產(chǎn)出。請配合參考第I圖所示，現(xiàn)有的視覺檢測方式，其利用一取放單元70將一晶粒71由一晶粒供應模塊76移動至一檢測站72。檢測站72系由四面反射鏡720，以一環(huán)繞方式所組成。當取放單元70將晶粒71移動至檢測站72的上方，取放單元70系下降至一特定距離，以使晶粒71位于...
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