技術編號：10317699
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。探針是電測試的接觸媒介，探針通常包括探針殼、探針頭，探針頭與探針殼之間彈性連接，探針頭可在探針套內伸縮。探針通常用來測試一些微型電子元器件的參數，例如測量電子元器件上兩個焊點之間的電阻、電流、電壓等。晶元是生產集成電路所用的載體，通常通過探針對進行檢測，由于一個晶元片上存在上百個晶元，單個探針檢測效率低，無法滿足生產檢測需求，需要多組探針同時檢測，然而目前沒有專門用于多組探針固定的夾具。實用新型內容本實用新型為了解決現有技術中的多組探針難以同時安裝定位的問...
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