技術(shù)編號:10334413
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。在激光慣性約束聚變(ICF)實(shí)驗(yàn)研究中,為了觀察聚合物微球內(nèi)部氣體壓縮的真實(shí)情況,診斷球體溫度和面密度,可以在聚合物微球球殼中摻雜診斷元素示蹤層,如氯(Cl)、鈦(Ti)、硫(S)、娃(Si)等。通過觀察診斷元素的特征譜線,如S1、S元素的K殼層發(fā)射譜線,可清晰的檢測到聚合物微球內(nèi)殼層界面的變化。摻雜層分為體相摻雜和界面摻雜,即在聚合物內(nèi)進(jìn)行元素?fù)诫s和在聚合物層內(nèi)界面處進(jìn)行元素?fù)诫s。從物理研究和診斷的需求出發(fā),客觀上要求摻雜層具有均勻、薄化等特點(diǎn)。然而,由...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。