技術(shù)編號：10389597
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。目前，現(xiàn)有技術(shù)對于半導(dǎo)體器件的參數(shù)測試均采用半導(dǎo)體器件測試儀，現(xiàn)有技術(shù)的半導(dǎo)體測試儀的機構(gòu)包括測試儀本體和操作平臺，所述操作平臺凹陷于測試儀本體中，在具體測試半導(dǎo)體器件性能時，會將半導(dǎo)體器件固定在操作平臺中，并對半導(dǎo)體器件通過一定電壓或電流讀取該半導(dǎo)體器件的參數(shù)。但隨著半導(dǎo)體器件的應(yīng)用領(lǐng)域的拓展，很多半導(dǎo)體器件需要在不透光的情況下使用，所以其參數(shù)自然也需要在不透光的情況下進行測試，但是目前對于這種半導(dǎo)體的測試，并沒有較為穩(wěn)定的測試儀器。目前針對半導(dǎo)體器件在...
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