技術(shù)編號(hào)：10551869
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 參見圖1，現(xiàn)有技術(shù)中的芯片測試裝置基本都是通過計(jì)算機(jī)的控制來完成芯片的 測試，上述芯片測試裝置由三部分組成，分別是計(jì)算機(jī)、測試設(shè)備以及芯片測試電路板。具 體的測試過程為按照待測芯片的功能，把所需的測試向量在計(jì)算機(jī)中進(jìn)行編譯，轉(zhuǎn)換的程 序驅(qū)動(dòng)測試設(shè)備的信號(hào)針輸出需要的信號(hào)，進(jìn)而使芯片測試電路板運(yùn)行。上述芯片測試裝 置所對應(yīng)的測試方式有如下缺點(diǎn) 1、調(diào)試?yán)щy。芯片的實(shí)際應(yīng)用環(huán)境和芯片的測試環(huán)境有很大的差異，從而導(dǎo)致一 系列的調(diào)試?yán)щy，例如測試系統(tǒng)搭建初期難以...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。