技術(shù)編號(hào)：10568239
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。非制冷紅外焦平面陣列屬于大面陣的探測(cè)器，由于制作器件的半導(dǎo)體材料的不一致性，掩膜誤差、缺陷、工藝等原因，紅外焦平面探測(cè)器存在不可避免的非均勻性、盲元，如果忽視這些問題，成像圖像信噪比很差。這些盲元點(diǎn)在圖像中表現(xiàn)為其灰度值變化緩慢，不能正確地反映場(chǎng)景的變化。對(duì)于盲元的定義，主要是從器件對(duì)黑體輻射的響應(yīng)程度作為量化指標(biāo)的。從目前文獻(xiàn)來(lái)看，國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有的盲元檢測(cè)與補(bǔ)償算法主要為盲元矯正標(biāo)定法，該方法標(biāo)定盲元的位置信息，然后由周圍均值去矯正盲元，該方法能精確矯正盲元...
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