技術(shù)編號(hào):10986780
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。非接觸式測(cè)量是指不接觸被測(cè)物體的前提下進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量。其測(cè)量精度可以達(dá)到微米級(jí),非接觸式測(cè)量?jī)x利用CCD采集變焦鏡下樣品的影像,再配合XYZ軸移動(dòng)平臺(tái)及自動(dòng)變焦鏡,運(yùn)用影像分析原理,通過(guò)計(jì)算機(jī)處理影像信號(hào),對(duì)科研生產(chǎn)零件進(jìn)行精密的幾何數(shù)據(jù)的測(cè)量,并可進(jìn)行CPK數(shù)值的分析。非接觸測(cè)量方法以光電、電磁、超聲波等技術(shù)為基礎(chǔ),在儀器的感受元件不與被測(cè)物體表面接觸的情況下,即可獲取被測(cè)物體的各種外表或內(nèi)在的數(shù)據(jù)特征。非接觸測(cè)量方法可分為光學(xué)法和非光學(xué)法。光學(xué)法包括結(jié)構(gòu)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。