技術(shù)編號(hào)：11100125
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于精密測(cè)試位置標(biāo)定技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種非球面在位檢測(cè)中的位置標(biāo)定方法。背景技術(shù)非球面鏡片主要應(yīng)用于光學(xué)成像，激光武器，核聚變等場(chǎng)合，由于大口徑非球面體積大，質(zhì)量高，采用離線手段進(jìn)行測(cè)量在工件搬運(yùn)方面非常困難，并且在進(jìn)行二次裝卡時(shí)測(cè)量坐標(biāo)系和工件坐標(biāo)系之間會(huì)產(chǎn)生較大的誤差，所以采用在線/在位測(cè)量是必不可少的。又因?yàn)闇y(cè)量工作對(duì)外界環(huán)境要求很高，所以一般都在恒溫間中通過(guò)專用的測(cè)量設(shè)備完成，因而大口徑非球面在位測(cè)量的技術(shù)一直是一個(gè)難點(diǎn)。傳統(tǒng)的非球面測(cè)量路徑有如下兩種：子午線式路徑規(guī)劃和圓周式路...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。