技術編號:11175097
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種工件孔深檢具。背景技術在機械制造領域,對于孔的孔深測量,一般采用傳統(tǒng)檢測方法,如卡尺和百分表,但只局限于形狀規(guī)正的孔的孔深測量;在沒有較好的測量方案時,將工件送至專用檢測室使用輪廓儀對全部內表面進行測量,費時費力,很難滿足測量頻次較高的需求。尤其對于深孔,孔徑公差較大(±0.2),角度公差較大(±2.5度),而孔深公差較小(±0.1),一端是內孔與錐面的交點,以前沒有好的檢測方案,只能送到專用檢測室用輪廓儀去測全部內表面,費時費力,占用輪廓儀的時間很長,如果檢測頻次高的時候,很困難...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。