技術編號：11197476
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及化合物探測技術領域，尤其涉及一種提高離子遷移譜儀分辨率及靈敏度的方法。背景技術離子遷移譜(IonMobilitySpectrometry，IMS)又稱離子淌度譜，是上世紀70年代出現(xiàn)的一種新型快速分離檢測技術。由于離子化及分離過程均在大氣壓下進行，與傳統(tǒng)質譜儀器相比具有結構簡單，靈敏度高，分析速度快，分析成本低的特點。同時，離子遷移譜的分離速度非常快，通常幾十毫秒內(nèi)就可以完成一次分析，幾秒至幾十秒內(nèi)就能給出分析的結果，能夠在大氣環(huán)境中對微量化學物質進行檢測，特別適于現(xiàn)場分析。目前，離子...
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