技術(shù)編號:11227570
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于線聚焦太陽能聚光集熱系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種焦斑偏移量測試方法。背景技術(shù)由于跟蹤誤差及太陽入射角的影響,槽式聚光器焦斑會發(fā)生中心偏移現(xiàn)象,而偏移量的大小直接影響光熱耦合能力。因此,確定焦斑中心偏移量大小至關(guān)重要。目前,針對焦斑中心偏移量的確定主要采用建立聚光器幾何數(shù)學(xué)模型,利用幾何關(guān)系求解焦斑中心偏移量。該種方法較為繁瑣,不能實時監(jiān)測焦斑中心偏移量,而且精度較低。故而適用性和實用性受到限制。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提供一種可有效提高檢測精度且使有穩(wěn)定性好的焦斑偏移量測試方法。實現(xiàn)本發(fā)明...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。