技術(shù)編號(hào)：11373449
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種電子測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于PCB測(cè)試的長(zhǎng)針高密治具。背景技術(shù)目前用于PCB測(cè)試的治具使用36毫米長(zhǎng)度的多個(gè)測(cè)試針，測(cè)試針相對(duì)于垂直線傾斜的角度過大，當(dāng)PCB放置于多個(gè)測(cè)試針上時(shí)，因測(cè)試針相對(duì)于垂直線傾斜的角度過大，PCB對(duì)多個(gè)測(cè)試針的壓力過大，容易壓傷多個(gè)測(cè)試針，而且不是用于測(cè)試具有高密度的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的PCB。實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本實(shí)用新型的目的是提供一種用于PCB測(cè)試的長(zhǎng)針高密治具。為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)揭示了一種長(zhǎng)針高密治具，其特征在于，包括...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。