技術(shù)編號(hào)：11387987
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。存儲(chǔ)器診斷系統(tǒng)本專利申請(qǐng)要求于2016年2月26日提交到韓國知識(shí)產(chǎn)權(quán)局(KIPO)的第10-2016-0022906號(hào)韓國專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)，該韓國專利申請(qǐng)的公開通過引用全部合并于此。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例涉及半導(dǎo)體集成電路，更具體地講，涉及一種用于基于存儲(chǔ)器裝置的監(jiān)視信息對(duì)存儲(chǔ)器裝置進(jìn)行診斷的存儲(chǔ)器診斷系統(tǒng)。背景技術(shù)存儲(chǔ)器裝置由于它們隨時(shí)間的劣化而具有有限的壽命。非易失性存儲(chǔ)器裝置在接近他們壽命的終點(diǎn)時(shí)可能丟失數(shù)據(jù)。發(fā)明內(nèi)容根據(jù)本發(fā)明構(gòu)思的示例性實(shí)施例，一種存儲(chǔ)器診斷系統(tǒng)包括存儲(chǔ)器裝置...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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