技術(shù)編號(hào):11405641
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于醫(yī)療器械領(lǐng)域,特別涉及一種電子耳蝸刺激器芯片防靜電測(cè)試方法。背景技術(shù)在電子耳蝸系統(tǒng)中,植入體的刺激器是核心部件,它是一塊印制電路板(PCB),上面已經(jīng)焊接好了芯片和各種分立元器件,在對(duì)刺激器的運(yùn)輸、組裝、與殼體整體焊接等生產(chǎn)過(guò)程中,它是直接或者間接暴露在空氣中的,因此不可避免會(huì)受到人體靜電放電的影響,而其中尤以對(duì)靜電放電最敏感的芯片管腳影響最大,這些芯片的管腳在刺激器上與電容一端焊在一起,而電容的另一端會(huì)最終與電極焊接。而在生產(chǎn)環(huán)節(jié)的電氣性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)電極的電學(xué)功能失效,說(shuō)明做為電...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。