技術(shù)編號(hào)：11457663
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及超聲波無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種高分辨率超聲掃描顯微鏡的加速處理方法。背景技術(shù)超聲掃描顯微鏡主要利用不同材料對(duì)超聲波聲阻抗、對(duì)聲波的吸收以及反射的不同，來(lái)探測(cè)材料內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、缺陷等，可以實(shí)現(xiàn)在不破壞材料的前提下進(jìn)行檢測(cè)，可以檢測(cè)材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)、內(nèi)部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡等等。由于采用高頻(15MHz-2GHz)的超聲系統(tǒng)，超聲掃描顯微鏡具有極高的分辨率，因此特別適用于集成電路、MEMS、大功率電力電子器件、航空電子及材料等領(lǐng)域的失效分析及質(zhì)量控制。隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的發(fā)展，越...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。