技術(shù)編號：11499195
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種測量實驗裝置，特別是涉及一種測量光滑圓柱塞規(guī)表面粗糙度的實驗裝置。背景技術(shù)塞規(guī)，國際叫法為針規(guī)，做成圓柱形狀，兩端分別為通端和止端，用于檢查位置，測量孔的尺寸，檢查兩孔距，也可作通止規(guī)及測量孔的深度用，是孔的標準化檢測的必備檢具，并廣泛用于電子板、線路板、模具、精密機械制造等各種高精尖技術(shù)領(lǐng)域。光滑圓柱塞規(guī)一般采用國際先進的激光檢測儀檢測工件表面粗糙度，而購置國際先進的激光檢測儀的成本較高，相應(yīng)的導(dǎo)致檢測成本偏高。因而，研究設(shè)計一種能夠測量光滑圓柱塞規(guī)表面粗糙度的測量實驗工具，...
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