技術(shù)編號：11591242
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種IC測試組件。背景技術(shù)IC測試主要是指集成電路的測試。IC測試中運用各種方法，檢測那些在制造過程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的集成電路樣品。由于集成電路尺寸較小，且具有特定形態(tài)，在測試過程中，需要有特定的IC測試組件對集成電路樣品進行抓取和測試。目前，常用的IC測試組件一般為平測式，在測試過程中，測試片測試片容易被磨損。當(dāng)測試片被磨損至穿透后就無法使用。因此，目前常用的IC測試組件的壽命較低。實用新型內(nèi)容基于此，有必要針對常用IC測試組件壽命...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。