技術(shù)編號(hào):11634605
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及通常利用防散射柵格的X射線設(shè)備,尤其是涉及一種提供用于分析X射線圖像的散射X射線的裝置。背景技術(shù)物體受到X射線輻射時(shí),一些X射線光子被吸收,一些穿過(guò)物體、非散射地撞擊到X射線探測(cè)器上。這稱為“直接輻射”。一些X射線被吸收,而其他的X射線散射。所產(chǎn)生的散射強(qiáng)度可能超過(guò)由檢測(cè)器檢測(cè)到的直接輻射的大小。散射輻射由于對(duì)比度降低和噪聲增加而導(dǎo)致圖像質(zhì)量很差。吸收的X射線可提供X射線圖像中的對(duì)比度。因?yàn)闊o(wú)法識(shí)別散射的X射線光子來(lái)自哪里,若散射X射線光子撞擊檢測(cè)器,將增加圖像中的隨機(jī)噪聲。解決散射問(wèn)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。