技術(shù)編號：11708526
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于計算機圖像處理領(lǐng)域，涉及一種基于被包圍狀態(tài)和貝葉斯模型的圖像顯著性檢測方法。背景技術(shù)近年來，圖像的顯著性檢測作為計算機視覺領(lǐng)域的一個重要方向受到國內(nèi)外研究人員的普遍關(guān)注。當前的方法主要發(fā)展為兩個方向：自底向上(非監(jiān)督)和自頂向下(監(jiān)督)。目前的自底向上的顯著性檢測方法主要有：基于超像素的聚類的顯著性檢測，它主要利用超像素之間的相似性進行聚類得到顯著圖；基于圖割的多層自適應(yīng)區(qū)域融合方法，在這個方法中，利用超像素對圖像建立圖割模型，初始化自適應(yīng)參數(shù)，通過自適應(yīng)參數(shù)的逐層調(diào)整得到多層初始顯著...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學習研究技術(shù)思路。