技術(shù)編號(hào):11772082
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種改良B-H測(cè)量線圈及基于此線圈的立方體樣件二維磁特性測(cè)量方法技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種測(cè)量線圈,具體指一種用于測(cè)量磁通密度B及磁場(chǎng)強(qiáng)度H的測(cè)量線圈,基于上述線圈的立方體樣件的二維磁特性測(cè)量結(jié)構(gòu),以及二維磁特性測(cè)量方法。背景技術(shù)在大多的二維磁特性測(cè)量實(shí)驗(yàn)中,向量B(磁通密度)和H(磁場(chǎng)強(qiáng)度)是由B測(cè)量線圈和H測(cè)量線圈測(cè)得,其中,B測(cè)量線圈是繞在樣品中的兩個(gè)小孔里,H測(cè)量線圈緊貼樣本。B測(cè)量線圈和H測(cè)量線圈都遵循電磁感應(yīng)定律。然而,在考慮疊壓方向應(yīng)力時(shí),傳統(tǒng)的微孔方法和新型的探針?lè)椒ǘ紵o(wú)法應(yīng)用,由于...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。