技術(shù)編號(hào)：11776586
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于離子漂移譜鑒定領(lǐng)域，涉及離子漂移譜鑒定過(guò)程中的離子接收極結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)離子遷移譜(IonMobilitySpectrometry,IMS)是一種根據(jù)離子的遷移率對(duì)物質(zhì)進(jìn)行鑒定的技術(shù)。遷移率是離子的一種屬性，在相同的漂移環(huán)境下，不同的離子具有不同的遷移率，經(jīng)過(guò)固定長(zhǎng)度和場(chǎng)強(qiáng)的漂移區(qū)后，不同的離子將先后到達(dá)離子接收極，進(jìn)而得到分離。在IMS儀器中，離子在漂移區(qū)電場(chǎng)和相向而來(lái)漂移氣的共同作用下運(yùn)動(dòng)，因此漂移區(qū)穩(wěn)定的氣流，是實(shí)現(xiàn)物質(zhì)鑒定的基礎(chǔ)與前提。漂移氣從漂移管的末端在流量計(jì)的精確控制下進(jìn)入...
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