技術(shù)編號：11807161
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及芯片物理完整性檢測領(lǐng)域。背景技術(shù)芯片的侵入式攻擊，也稱為物理攻擊，是指攻擊者通過物理手段(如借助特殊的儀器設(shè)備)，對芯片內(nèi)部所展開的信息窺探和惡意破壞行為。包括剝離、探針、聚焦離子束FIB等?，F(xiàn)階段針對物理攻擊的解決辦法之一是頂層金屬檢測。當芯片遭受物理攻擊時，頂層金屬會遭到破壞，檢測裝置會檢測到頂層金屬受到破壞而發(fā)出報警信號?，F(xiàn)有的頂層金屬檢測一般采用上拉電阻式檢測方式或下拉電阻式檢測方式。上拉電阻檢測方式指金屬檢測線網(wǎng)一端接地，另一端通過一個大阻值的上拉電阻接到電源?？刂破鲗饘贆z...
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