技術(shù)編號：11824897
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及微波測量領(lǐng)域，具體來說，涉及一種薄膜材料介電性能的測試方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)薄膜材料廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域，如信息存儲及復(fù)合材料粘結(jié)等。不同的應(yīng)用需求對薄膜材料的電磁特性要求也不盡相同。對薄膜材料而言，其復(fù)介電參數(shù)和磁導(dǎo)率是其重要參數(shù)。但是，由于薄膜材料厚度很薄，體積也很小，同時(shí)在制作薄膜時(shí)一般選擇涂覆在特定的基底上，其中在測量塊狀均勻介質(zhì)時(shí)，測量其高頻復(fù)電磁特性比較加困難。目前薄膜材料復(fù)介電常用的測試方法主要有諧振腔法以及傳輸/反射法。其中，諧振腔法是將待測樣品放入諧振腔內(nèi)，根據(jù)樣品放入前...
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