技術(shù)編號：11860178
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及超分辨熒光顯微成像領(lǐng)域。背景技術(shù)傳統(tǒng)遠場光學顯微分辨率主要受到衍射極限的限制，其在物鏡焦點處形成的焦點大小，即點擴散函數(shù)(PSF)決定了其分辨能力。受激輻射損耗(Stimulatedemissiondepletion，STED)成像技術(shù)是一種遠場光學超分辨成像技術(shù)，它突破了傳統(tǒng)光學衍射極限的限制，把遠場光學分辨率提高至50nm甚至更高。受激輻射損耗成像原理是采用兩路波長不同的激光，一路激光叫做激發(fā)光，用于激發(fā)生物等樣品內(nèi)熒光物質(zhì)至激發(fā)態(tài)，從而輻射出可探測的熒光；另一路激光叫做損耗光，同...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。