技術(shù)編號：11863348
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及的是一種γ射線檢測的曝光曲線計算方法，屬于無損檢測中的膠片射線檢測技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)射線檢測是使用最為廣泛和普遍的一種射線檢測方法，也是一種最可靠的無損檢測手段，目前已廣泛應(yīng)用于我國經(jīng)濟建設(shè)的各個領(lǐng)域，例如特種設(shè)備的制造檢測和在用檢測，以及機械、冶金、石油天然氣、化工、航空航天、船舶、鐵道、電力、核工業(yè)、兵器、煤炭、有色金屬、建筑等行業(yè)。膠片射線檢測中底片的成影質(zhì)量完全決定了檢測的結(jié)果，為了得到較好的底片必須不斷的完善射線拍片工藝。γ射線的拍片工藝主要包括源種類、源活度、焦距、膠片、暗...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。