技術(shù)編號：11914644
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明針對在高計數(shù)率下fastSDD探測器慢成形時在全能峰前出現(xiàn)假峰的影響探測器能量分辨率的問題，提出了一種fastSDD探測器譜處理方法。背景技術(shù)能量色散X熒光儀因其測量快速、準確、無損等優(yōu)點被廣泛使用，但近年來對各種元素檢測的準確度和精確度要求非常高，探測器的改進方面起到了關(guān)鍵的作用。高性能硅漂移探測器(fastSDD)正逐漸取代硅漂移探測器(SDD)。目前性能最好的fastSDD測量到55Fe放射源5.9keV的譜峰，其能量分辨率達到125eV。國內(nèi)也有研究院對SDD進行制作和改進，并取得...
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