技術(shù)編號(hào)：11985353
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種間隙測(cè)試治具。背景技術(shù)厚薄規(guī)(塞尺)是用來檢測(cè)兩個(gè)相結(jié)合面之間間隙大小的片狀量規(guī)，如圖1所示，包括多個(gè)片狀結(jié)構(gòu)11，其中每個(gè)片狀結(jié)構(gòu)11標(biāo)有與厚度相對(duì)應(yīng)的刻度。當(dāng)間隙測(cè)試時(shí)，需要嘗試將不同刻度的片狀結(jié)構(gòu)11放入兩個(gè)相結(jié)合面之間，直到片狀結(jié)構(gòu)11與間隙的大小達(dá)到測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為止，然后讀取該片狀結(jié)構(gòu)的刻度，即為間隙的大小。在實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題：使用厚薄規(guī)進(jìn)行間隙測(cè)試時(shí)，需要將厚薄規(guī)中的片狀結(jié)構(gòu)分別依次置入兩個(gè)結(jié)合面之間，需...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。