技術(shù)編號(hào)：11986742
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于磁片檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種磁片多功能檢測平臺(tái)。背景技術(shù)磁片的生產(chǎn)檢測都需要在無塵環(huán)境中，而且磁片移動(dòng)時(shí)需要避免磨損，因此檢測需要格外小心。為了防止因?yàn)闆]有磁力或者磁片極性不正確的產(chǎn)品磁片流到下一個(gè)工序，需要對產(chǎn)品磁片的極性進(jìn)行檢測。目前，采用的方法是將磁片用磁片極性檢測儀器進(jìn)行檢測。磁片表面缺陷，通常是指其外觀缺陷，包括生銹、針孔/爛毛、污斑/黃斑/燒焦、磕邊、鍍層劃痕、變形、破角、白霧、雜物、陰裂、刀絲/切割痕、突起、亮斑、疊印、氧化凹陷等等，一般都是采用人工檢測的方式，通過...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。