技術(shù)編號：12033093
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于基于納米尺度的顯微學和宏觀力學行為的結(jié)合表征領域，尤其涉及一種基于原子力顯微鏡及電動力學拉伸機的材料測試裝置。背景技術(shù)原子力顯微鏡是一種精密的納米尺度下的顯微鏡，能觀測生物材料，無機材料，金屬材料，或者高分子材料的表面，獲得材料表面的微納觀形貌信息。而原子力顯微鏡在觀測樣品時不需像SEM一樣要對樣品環(huán)境保持高度真空，對于不導電材料也并不需要特殊處理，這是原子力顯微鏡的優(yōu)勢。電動力學拉伸系統(tǒng)，能通過拉伸，壓縮，彎曲，剪切等方式給予材料以加載應力，可使材料處于不同復雜的應力環(huán)境下獲得材料應...
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