技術(shù)編號：12033262
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基體校正系數(shù)，特別是涉及一種XRF分析的基體校正系數(shù)的計(jì)算方法。背景技術(shù)基本參數(shù)法是一種利用樣品元素對激發(fā)射線和熒光射線的質(zhì)量吸收系數(shù)、元素的激發(fā)因子、儀器常數(shù)等基本參數(shù)和樣品的化學(xué)組成計(jì)算待測元素所發(fā)出特征X射線強(qiáng)度為基礎(chǔ)的XRF分析方法。待測元素所發(fā)出特征X射線強(qiáng)度與基本參數(shù)和樣品化學(xué)組成的關(guān)系用Sherman方程表示。在Sherman方程中，待測元素?zé)晒鈴?qiáng)度是其濃度的隱函數(shù)，即濃度不能直接用強(qiáng)度表示。Sherman方程的簡單表示式見式(1)式(1)中：Ri——樣品中元素i的相...
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