技術(shù)編號：12065481
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導體器件測試領域，尤其涉及SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)。背景技術(shù)目前業(yè)界對于SSD產(chǎn)品的測試大部分都是通過如下方式進行的，一般都是通過在高溫高壓條件下，以固定的數(shù)據(jù)類型和數(shù)據(jù)大小對SSD進行重復的讀寫操作，通過檢測每一圈的讀寫測試結(jié)果：記錄每一圈寫入數(shù)據(jù)和讀出數(shù)據(jù)錯誤；檢測SSD的讀寫過程中產(chǎn)生壞塊數(shù)，統(tǒng)計產(chǎn)生壞塊數(shù)超過規(guī)定的標準的數(shù)據(jù)；記錄每一圈的讀寫時間，統(tǒng)計超過規(guī)定的標準讀寫時間值的數(shù)據(jù)。測試完成后擦除產(chǎn)品內(nèi)的數(shù)據(jù)，結(jié)束測試。這種測試方式存在以下問題：測試中未對SSD產(chǎn)品的狀態(tài)進行監(jiān)控...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學習原理，如您想要源代碼請勿下載。