技術(shù)編號(hào)：12071325
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。確定從體數(shù)據(jù)提取的表面數(shù)據(jù)的局部質(zhì)量的方法和系統(tǒng)本發(fā)明涉及一種用于確定從所獲得的體數(shù)據(jù)(尤其是通過計(jì)算機(jī)斷層掃描獲得的體數(shù)據(jù))中提取的表面數(shù)據(jù)的局部質(zhì)量的方法。本發(fā)明還涉及一種用于執(zhí)行所述方法的系統(tǒng)。工業(yè)x射線計(jì)算機(jī)斷層掃描有助于以非破壞性和免接觸方式確定技術(shù)對(duì)象(包括內(nèi)部結(jié)構(gòu))。這里，所述對(duì)象被來自不同方向的x射線輻射照射，其中在每種情況下都記錄該對(duì)象的2D投影。根據(jù)該2D投影重建3D圖像數(shù)據(jù)記錄(體數(shù)據(jù)記錄)。這種體數(shù)據(jù)記錄由體素(立方體體元)的三維矩陣組成，其中灰度值被分配給每個(gè)體素。該灰...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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