技術(shù)編號：12114347
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電磁發(fā)射要素分析系統(tǒng)，屬于電磁兼容技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)隨著電氣電子設(shè)備數(shù)量越來越多，這些設(shè)備在工作時通常會產(chǎn)生一些有用或無用的電磁發(fā)射，這些發(fā)射可能會對其他設(shè)備造成潛在電磁干擾。這些電磁干擾會造成設(shè)備的性能降級，甚至可能造成設(shè)備的毀壞。因此對設(shè)備的電磁發(fā)射要素進(jìn)行檢測分析就顯得刻不容緩。首先需要對電磁發(fā)射頻譜進(jìn)行檢測，然后提取頻譜數(shù)據(jù)中電磁發(fā)射要素進(jìn)行分析，而后采取相應(yīng)的電磁兼容性設(shè)計。目前查找干擾源的方法是首先對發(fā)射設(shè)備采取電磁兼容檢測試驗，根據(jù)國軍標(biāo)(GJB151A)中規(guī)定的發(fā)射...
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