技術(shù)編號：12118757
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及X射線檢測領(lǐng)域，具體是指一種GIS設(shè)備現(xiàn)場X射線檢測及直線掃描三維成像裝置。背景技術(shù)工業(yè)上常用的射線探傷方法為X射線探傷和γ射線探傷，具體是指采用電磁波對金屬工件進(jìn)行檢測，同X線透視類似。在檢測時，射線穿過被檢測件到達(dá)底片，如果被檢測件沒有缺陷，底片上則會有均勻感光；如果被檢測件有裂縫、洞孔以及夾渣等缺陷時，底片上則會有暗影。X射線數(shù)字成像技術(shù)可以實現(xiàn)不拆卸設(shè)備和不破壞環(huán)境，甚至是不停電的情況下對GIS(GasInsulatedSwitch氣體絕緣開關(guān))設(shè)備進(jìn)行檢測，達(dá)到可視化診斷。然...
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