技術(shù)編號(hào)：12141302
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本披露涉及光譜器械以及方法，并且更確切地涉及瞬時(shí)時(shí)域光學(xué)相干斷層成像術(shù)(iTD-OCT)系統(tǒng)和方法。背景技術(shù)光學(xué)相干斷層成像術(shù)(OCT)是一種用于對(duì)至少部分反射光的樣本材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)檢查的干涉分析技術(shù)。在OCT中，用光線來(lái)基于在參考光束和與樣本材料相互作用的采樣光束之間產(chǎn)生的光學(xué)干涉來(lái)測(cè)量距離和深度輪廓。因?yàn)闃颖静牧习▋?nèi)部界面或在其處光折射率變化的其他特征，來(lái)自樣本光束的入射光的一部分被反射回去或者被背向散射并且能夠用來(lái)與參考光束重疊而在OCT器械進(jìn)行干涉檢測(cè)。樣本材料通?？梢允轻槍?duì)OCT器械使...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。