技術(shù)編號(hào)：12155858
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種物體表面測(cè)量系統(tǒng)與方法，特別是針對(duì)物體表面具有高反光特性的冷凝測(cè)量系統(tǒng)與方法?，F(xiàn)有技術(shù)隨著科技進(jìn)步，各項(xiàng)產(chǎn)品的表面加工越見平滑，也即是具有了高反光特性(reflectivity)，雖然增加了外觀價(jià)值，但對(duì)于以光學(xué)設(shè)備進(jìn)行表面測(cè)量或瑕疵檢測(cè)而言，將因?yàn)楦邚?qiáng)度的反射光進(jìn)入設(shè)備而影響了測(cè)量或檢測(cè)的結(jié)果。發(fā)明內(nèi)容有鑒于上述的問題，本發(fā)明提出一種利用微細(xì)液滴形成于物體表面而降低反光強(qiáng)度的表面測(cè)量系統(tǒng)與方法，以提升自動(dòng)化非接觸性光學(xué)測(cè)量的準(zhǔn)確度。依據(jù)本發(fā)明所實(shí)現(xiàn)的一種表面冷凝測(cè)量方法，包括以下...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。