技術(shù)編號:12156218
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于集成電路領(lǐng)域,涉及一種針對反熔絲FPGA的微探針實時動態(tài)測試電路,特別的是通過這種結(jié)構(gòu)形式,可以使反熔絲FPGA的測試方式更加靈活多變,大大提高芯片的測試效率與可測性,該微探針設(shè)計應(yīng)該具有很高的覆蓋性,可以偵測任意電路節(jié)點。背景技術(shù)FPGA即現(xiàn)場可編程門陣列,它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進一步發(fā)展的產(chǎn)物。它是作為專用集成電路(ASIC)領(lǐng)域中的一種半定制電路而出現(xiàn)的,既解決了定制電路的不足,又克服了原有可編程器件門電路數(shù)有限的缺點。FPGA芯片內(nèi)部有著豐富的布線資...
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