技術(shù)編號：12158142
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。針對集成電路設(shè)計中存在著不同類型、不同版本的多套庫（Library）信息，本文提出一種有效的庫單元組織結(jié)構(gòu)和檢查方法，可以多維度對設(shè)計庫進行檢查和比較，提高設(shè)計質(zhì)量，保證設(shè)計的正確性。本發(fā)明屬于EDA設(shè)計領(lǐng)域。背景技術(shù)隨著制造工藝的發(fā)展和集成電路設(shè)計規(guī)模的擴大，設(shè)計者在面對越來越多，越來越復(fù)雜的庫（Library）文件。這些庫文件可能是來源于不同的設(shè)計提供商，也可能是來源于不同的版本控制。庫的類型也會有很多，包括描述標(biāo)準(zhǔn)單元物理信息的LEF庫；描述版圖信息的GDS庫；描述網(wǎng)表信息的Verilog...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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