技術(shù)編號(hào):12253972
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及帶電粒子(包括電子、離子等)動(dòng)能分布和角度分布的測(cè)量方法等領(lǐng)域,具體涉及一種光電子成像儀。背景技術(shù)目前通行的光電子成像儀是由荷蘭科學(xué)家Eppink和Parker于1997年設(shè)計(jì),他們通過(guò)設(shè)計(jì)三塊帶圓孔的極板,在一定的優(yōu)化電壓配置下,形成離子透鏡,實(shí)現(xiàn)對(duì)具有相同速度但是不同位置的帶電粒子進(jìn)行聚焦,然后被飛行管后端MCP&PS(Micro-channelPlate&PhorsphorScreen,微通道板&磷光屏)探測(cè)器收集,如圖1(a)所示,其中P1是排斥級(jí)極板,...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。