技術(shù)編號：12268794
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。LED批量抗靜電測試基座技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明專利屬于半導(dǎo)體元件測試領(lǐng)域，特別涉及可提供統(tǒng)一測試環(huán)境的批量測試基座的機(jī)械結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)隨著微電子制造水平的發(fā)展，LED成為近些年來用途極為廣泛的光源產(chǎn)品，其應(yīng)用范圍不斷擴(kuò)大。照明、顯示、醫(yī)療等領(lǐng)域都對LED在各種環(huán)境條件下的表現(xiàn)提出了嚴(yán)格的要求。靜電損傷是影響光電子器件穩(wěn)定性的主要原因之一，對LED來說也不例外。目前，TLP測試方法已成為電路設(shè)計(jì)工程師研究靜電放電（ESD）保護(hù)電路的特性，進(jìn)行ESD設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。TLP測試先從小電壓脈沖開始，隨后連續(xù)增加...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。