技術(shù)編號:12281449
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。使用長壽命放射性同位素的實(shí)時(shí)伽馬相機(jī)死區(qū)時(shí)間確定相關(guān)申請本專利文獻(xiàn)要求2014年6月6日提交的序列號為62/008,791的臨時(shí)美國專利申請?jiān)?5U.S.C.下的申請日的權(quán)益,所述美國專利申請由此通過引用被并入。背景技術(shù)本實(shí)施例涉及單光子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描(SPECT)。特別地,本實(shí)施例涉及SPECT中的死區(qū)時(shí)間校正。在SPECT成像期間,檢測器電子器件花費(fèi)時(shí)間來執(zhí)行對發(fā)射的檢測。在該時(shí)段期間,由于檢測器電子器件的不可用性,附加的發(fā)射沒有被檢測到。結(jié)果,實(shí)際的發(fā)射可能少計(jì)。針對死區(qū)時(shí)間校正所檢測...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。