技術(shù)編號(hào):12303906
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及LED可靠性測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種LED燈具在溫度加速老化中的壽命誤差試驗(yàn)方法。背景技術(shù)LED(lightemittingdiode)具有體積小、壽命長(zhǎng)、亮度高、節(jié)能高效等諸多優(yōu)點(diǎn),被認(rèn)為是取代白熾燈、熒光燈、高壓氣體放電燈的第四代照明光源。已被廣泛應(yīng)用于信號(hào)指示、LCD背光、顯示、通用照明等領(lǐng)域。當(dāng)諸多學(xué)者致力于研究其長(zhǎng)壽命及其可靠性的問(wèn)題時(shí),其中不可忽略的問(wèn)題,為如何在較短的截止時(shí)間內(nèi)給出LED產(chǎn)品的高可靠性壽命?,F(xiàn)有的老化測(cè)試截止時(shí)間大部分是參考美國(guó)能源之星報(bào)道的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),如IE...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。