技術編號：12356606
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及環(huán)境監(jiān)測技術領域，尤其涉及一種基于J2EE的環(huán)境監(jiān)測能力統計系統。背景技術隨著科技的進步，人們對環(huán)境的重視程度日益增高，因此，各式各樣的環(huán)境監(jiān)測儀器設備應運而生，但人們對環(huán)境監(jiān)測儀器設備的環(huán)境監(jiān)測能力不能夠清晰的進行了解，使用起來很不方便，因此，我們提出基于J2EE的環(huán)境監(jiān)測能力統計系統用于對環(huán)境監(jiān)測儀器設備的環(huán)境監(jiān)測能力進行統計檢測，方便人們選擇使用環(huán)境監(jiān)測儀器設備。發(fā)明內容基于背景技術存在的技術問題，本發(fā)明提出了基于J2EE的環(huán)境監(jiān)測能力統計系統。本發(fā)明提出的基于J2EE的環(huán)境監(jiān)測...
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