技術(shù)編號：12368511
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及電路測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種測試電路開關(guān)控制單元、方法、測試電路和顯示裝置。背景技術(shù)在現(xiàn)有技術(shù)的測試電路開關(guān)控制單元中，柵線測試開關(guān)晶體管和數(shù)據(jù)線測試開關(guān)晶體管在非測試階段長期處于負偏壓狀態(tài)，從而TFT(薄膜晶體管)特性發(fā)生明顯的劣化，導致柵線測試開關(guān)晶體管的漏電流和數(shù)據(jù)線測試開關(guān)晶體管的漏電流明顯變大，從而會造成柵極驅(qū)動電路通過柵線測試開關(guān)晶體管漏電，數(shù)據(jù)驅(qū)動電路通過數(shù)據(jù)線測試開關(guān)晶體管漏電，從而影響柵極驅(qū)動電路和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路在長時間、高溫等情況下的正常驅(qū)動。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目...
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