技術(shù)編號(hào)：12484990
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電磁兼容技術(shù)，尤其涉及一種有限陣列天線分析方法。背景技術(shù)由于中、大型陣列天線造價(jià)昂貴，準(zhǔn)確的方向圖、輻射近遠(yuǎn)場(chǎng)、駐波和掃描特性仿真預(yù)測(cè)意味著更小的設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)和成本浪費(fèi)，可以減少實(shí)驗(yàn)調(diào)整的工作量，提高研發(fā)進(jìn)度和節(jié)約人力和物力。同時(shí)，對(duì)單元互耦進(jìn)行正確而有效的評(píng)估，有助于深入了解陣列天線的特性并指導(dǎo)實(shí)際設(shè)計(jì)工作。因此，尋找一種精確的中、大型陣列的仿真分析顯得尤為重要。中、大型陣列中陣元互耦會(huì)使方向圖性能變壞，天線副瓣電平變高，降低了天線方向性系數(shù)，尤其是對(duì)于小間距的超方向性激勵(lì)陣列影響十分嚴(yán)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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