技術(shù)編號(hào)：12593904
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于液晶面板測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)的探針定位方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)液晶面板在正式出廠前，均需要進(jìn)行點(diǎn)燈測(cè)試，從而檢測(cè)液晶面板是否存在壞點(diǎn)。傳統(tǒng)技術(shù)中，如圖1所示，為液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置與液晶面板的連接布置圖；在圖1中，1代表液晶面板；2代表液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置；如圖2所示，為圖1中A區(qū)域的剖面圖；從圖2可以看出，液晶面板點(diǎn)燈測(cè)試裝置配置有若干個(gè)測(cè)試接口3，液晶面板印刷有多條測(cè)試線；在每個(gè)測(cè)試接口和測(cè)試線之間設(shè)置有探針4，通過探針使測(cè)試接口和測(cè)試線之間實(shí)現(xiàn)電路連接，從而最...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。