技術(shù)編號：12620870
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及電路測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種延遲鎖定環(huán)的檢測方法和系統(tǒng)。背景技術(shù)延遲鎖定環(huán)(DLL)基于參考時鐘產(chǎn)生多個與參考時鐘的頻率一致而延時不同的時鐘。圖1為傳統(tǒng)的測試延遲鎖定環(huán)的系統(tǒng)模塊圖。延遲鎖定環(huán)1是被檢測的對象，其接收參考時鐘，并根據(jù)參考時鐘和延時參數(shù)產(chǎn)生多個不同的延遲時鐘。信號發(fā)生器2用來產(chǎn)生參考時鐘，測試儀器3用來測試延遲鎖定環(huán)1輸出的延遲時鐘，判斷其是否與目標時鐘一致。參考時鐘在進入延遲鎖定環(huán)1之前，由于測試環(huán)境的影響，會產(chǎn)生衰減和扭曲，直接影響延遲鎖定環(huán)1的正常工作。另外，多...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。