技術(shù)編號：12656772
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于電子信息材料測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種測量薄膜材料電光系數(shù)的裝置及方法。背景技術(shù)電光調(diào)制的物理基礎(chǔ)是電光效應(yīng)，即某些晶體在外加電場的作用下，其折射率將發(fā)生變化，當(dāng)光波通過此介質(zhì)時(shí)，其傳輸特性就會受到影響而改變，這種現(xiàn)象稱為電光效應(yīng)，它的表征即為電光系數(shù)。薄膜材料的電光系數(shù)在光電子器件以及無線光通信領(lǐng)域中應(yīng)用廣泛。為了改進(jìn)和指導(dǎo)光學(xué)材料的制作與生產(chǎn)工藝，如何快速準(zhǔn)確地測量薄膜材料的電光系數(shù)成為相關(guān)領(lǐng)域的研究難點(diǎn)。傳統(tǒng)的測量方法主要有：(1)在光電器件上外加調(diào)制電壓，采用耦合的方法將TM或...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。