技術(shù)編號(hào)：12663512
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸摸檢測(cè)方法和裝置。背景技術(shù)目前，隨著觸摸屏尺寸的不斷增大，大尺寸的觸摸屏成品在觸控壓力一致性方面的性能較差。產(chǎn)品開(kāi)發(fā)人員往往通過(guò)增加采樣點(diǎn)數(shù)或者統(tǒng)一使用時(shí)間復(fù)雜度較高的濾波算法，過(guò)濾無(wú)效數(shù)據(jù)，計(jì)算出準(zhǔn)確的觸摸軌跡。但是，增加采樣點(diǎn)數(shù)和統(tǒng)一使用時(shí)間復(fù)雜度較高的濾波算法的方式會(huì)導(dǎo)致主處理器的負(fù)擔(dān)增大，在性能要求嚴(yán)格的嵌入式系統(tǒng)中，往往又會(huì)導(dǎo)致觸控顯示刷新延遲等問(wèn)題，影響用戶的觸控體驗(yàn)。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明實(shí)施例提供一種觸摸檢測(cè)方法和裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中大尺寸電阻式...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒(méi)有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。